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全自動(dòng)三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

全自動(dòng)三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

  • 產(chǎn)品介紹:全自動(dòng)三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部真實(shí)結(jié)構(gòu)信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。
  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 更新時(shí)間:2024-07-18
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品品牌:其他品牌
  • 產(chǎn)品廠地:廣州市
  • 訪問次數(shù):4058
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產(chǎn)品介紹

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
儀器種類金相切割機(jī)產(chǎn)地類別國產(chǎn)

全自動(dòng)三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X

幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面,在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部最真實(shí)結(jié)構(gòu)信息,在使用徠卡EM TIC3X之前,這類工作從未變得如此之簡單。

徠卡EM TIC 3X三離子束切割儀適宜處理軟/硬復(fù)合、帶有孔縫結(jié)構(gòu)、熱敏感性、脆性及非均質(zhì)樣品,獲得樣品截面,從而進(jìn)行掃描電子顯微鏡(SEM),微區(qū)分析(EDS,WDS,Auger,EBSD)及原子力顯微鏡或掃描探針顯微鏡(AFM,SPM)檢測(cè)。

三離子束(分別獨(dú)立控制),冷凍樣品臺(tái)及多樣品臺(tái),確保離子束對(duì)樣品處理高效,切割區(qū)域?qū)捛疑睿瑥亩@得高質(zhì)量截面切割結(jié)果。

全自動(dòng)三離子束拋光切割儀 EM TIC 3X
 

為您帶來的優(yōu)勢(shì)

 

  

性能

*的三離子束系統(tǒng),可獲得佳的截面處理質(zhì)量,并可高效獲得寬且深的切割區(qū)域,大大降低工作時(shí)間。并可實(shí)現(xiàn)在一次處理過程中最多處理3個(gè)樣品。因此對(duì)有高通量需求的實(shí)驗(yàn)室,徠卡EM TIC 3X是佳解決方案。

樣品托

多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品。

  

可裝配系統(tǒng)

根據(jù)您的樣品制備需要,可以有針對(duì)性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設(shè)計(jì)樣品臺(tái)-標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái),多樣品臺(tái)或冷凍樣品臺(tái)。

樣品TOPO結(jié)構(gòu)清晰可見

除了剖面切割,使用同一樣品托還可對(duì)樣品進(jìn)行清潔及增強(qiáng)襯度的功能。

  

冷凍樣品臺(tái)

針對(duì)溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺(tái)對(duì)樣品進(jìn)行低溫下處理,獲得高質(zhì)量處理結(jié)果。樣品托和擋板的溫度都可達(dá)到-150° C。

 

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